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AN0045 - Ultraviolettlicht-Sichtsysteme für die Leim- und Dichtstoffanalyse mit induzierter Fluoreszenztechnik

Nachweis von Tracersubstanzen mit Extraktion von geometrischen oder dimensionalen Informationen

Maß Winkel, Abstände, Öffnungen, Positionen um die korrekte Ausführung der Arbeiten oder als Vorbereitung für Schweiß- und Montagevorgänge zu überprüfen

Vergleich mit dem mathematischen Modell zur Bestimmung der beherrschenden Anteile

Anwendungen auf Roboterinseln, auf kartesischen Achsen oder auf automatischen Montageinseln

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